标准编号：GB/T 11685-2003
标准名称：半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
英文名称：Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位：核工业标准化研究所
标准状态：现行
发布日期：2003-07-07
实施日期：2004-01-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准规定了半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要特性的测量方法。
本标准适用于半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要性能的测量。
本标准适用于半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要性能的测量。
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