标准编号：GB/T 5201-2012
标准名称：带电粒子半导体探测器测量方法
英文名称：Test procedures for semiconductor charged particle detectors
发布部门：国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会
起草单位：中核（北京）核仪器厂
标准状态：现行
发布日期：2012-06-29
实施日期：2012-11-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准规定了带电粒子半导体探测器的电特性和核辐射性能的测量方法以及某些特殊环境的试验方法。
本标准适用于带电粒子部分耗尽层的半导体探测器。
本标准适用于带电粒子部分耗尽层的半导体探测器。
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