标准编号：GB/T 30118-2013
标准名称：声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法
英文名称：Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications―Specifications and measuring methods
发布部门：国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会
起草单位：中国电子科技集团公司第二十六研究所、中国电子科技集团德清华莹电子有限公司、北京石晶光电科技有限公司
标准状态：现行
发布日期：2013-12-17
实施日期：2014-05-15
标准格式：PDF
内容简介
本标准规定了人造石英、铌酸锂（LN）、钽酸锂（LT）、四硼酸锂（LBO）和硅酸镓镧（LGS）等单晶晶片等。
本标准适用于人造石英、铌酸锂（LN）、钽酸锂（LT）、四硼酸锂（LBO）和硅酸镓镧（LGS）等单晶晶片。这些单晶晶片用作声表面波(SAW)滤波器和谐振器等基片材料。
本标准适用于人造石英、铌酸锂（LN）、钽酸锂（LT）、四硼酸锂（LBO）和硅酸镓镧（LGS）等单晶晶片。这些单晶晶片用作声表面波(SAW)滤波器和谐振器等基片材料。
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