标准编号：GB/T 5594.4-2015
标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 4: Test method for permittivity and dielectric loss angle tangent value
发布部门：国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会
起草单位：中国电子科技集团公司第十二研究所、中国电子技术标准化研究院、北京七星飞行电子有限公司
标准状态：现行
发布日期：2015-05-15
实施日期：2016-01-01
标准格式：PDF
内容简介
本部分规定了装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子 陶瓷材料介电常数和介质损耗角正切值的测试方法。
本部分适用于装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料在频率为1 MHz，温度从室温至500 ℃条件下的介电常数和介质损耗角正切值的测试。
本部分适用于装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料在频率为1 MHz，温度从室温至500 ℃条件下的介电常数和介质损耗角正切值的测试。
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