标准编号：GB/T 30869-2014
标准名称：太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法
英文名称：Test method for thickness and total thickness variation of silicon wafers for solar cell
发布部门：国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会
起草单位：东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司、有研半导体材料股份有限公司、乐山新天源太阳能科技有限公司、青洋电子材料有限公司
标准状态：现行
发布日期：2014-07-24
实施日期：2015-02-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准规定了太阳能电池用硅片（以下简称硅片）厚度及总厚度变化的分立式和扫描式测量方法。
本标准适用于符合GB／T 26071、GB／T 29055规定尺寸的硅片的厚度及总厚度变化的测量，分立式测量方法适用于接触式及非接触式测量，扫描式测量方法只适用于非接触式测量。在测量仪器准许的情况下，本标准也可用于其他规格硅片的厚度及总厚度变化的测量。
本标准适用于符合GB／T 26071、GB／T 29055规定尺寸的硅片的厚度及总厚度变化的测量，分立式测量方法适用于接触式及非接触式测量，扫描式测量方法只适用于非接触式测量。在测量仪器准许的情况下，本标准也可用于其他规格硅片的厚度及总厚度变化的测量。
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