标准编号：GB/T 34479-2017
标准名称：硅片字母数字标志规范
英文名称：Specification for alphanumeric marking of silicon wafers
发布部门：国家质检总局 国家标准委
起草单位：有研半导体材料有限公司、浙江省硅材料质量检验中心
标准状态：现行
发布日期：2017-10-14
实施日期：2018-07-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准规定了硅片或其他半导体晶片上字母数字标志的编码规范，包括标志的形状和尺寸、字母数字代码的定义、要求和字母数字错码检验方法等。该标志及关联信息存入数据库，可被简单的自动光学字符读数（OCR）仪或人工进行独立、快速识别，确保晶片制造商对晶片标记的一致性。
本标准适用于在硅片及其他晶片正面或背面的编码标志。
本标准适用于在硅片及其他晶片正面或背面的编码标志。
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