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GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法

标准编号:GB/T 17444-2013
标准名称:红外焦平面阵列参数测试方法
英文名称:Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
发布部门:国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会
起草单位:中国科学院上海技术物理研究所
标准状态:现行
发布日期:2013-11-12
实施日期:2014-04-15
标准格式:PDF
内容简介
本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。
本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。
本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。
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