标准编号：GB/T 18907-2013
标准名称：微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法
英文名称：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
发布部门：国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会
起草单位：北京科技大学、北京航空材料研究院、宝钢集团中央研究院
标准状态：现行
发布日期：2013-07-19
实施日期：2014-03-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准规定了用透射电子显微镜(TEM)对薄晶体试样的微米和亚微米尺寸区域进行选区电子衍射分析的方法。
本标准适用于从晶体试样上获取SAED 谱、标定衍射谱的指数以及校准电镜的衍射常数。
本标准适用于从晶体试样上获取SAED 谱、标定衍射谱的指数以及校准电镜的衍射常数。
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