标准编号：SJ/T 11471-2014
标准名称：发光二极管外延片测试方法
英文名称：Measurement methods for epitaxial wafers of light-emitting diodes
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
起草单位：上海蓝光科技有限公司、山东华光光电子有限公司
标准状态：现行
发布日期：2014-10-14
实施日期：2015-04-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准规定了可见光发光二极管外延片（以下简称外延片）的几何参数、表面缺陷、结构参数及光电参数的测试方法。
本标准适用于镓砷磷系、铝镓铟磷系及氯镓铟氮系外延片。
本标准适用于镓砷磷系、铝镓铟磷系及氯镓铟氮系外延片。
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