标准编号：SJ/T 2658.14-2016
标准名称：半导体红外发射二极管测量方法 第14部分：结温
英文名称：Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode -Part 14: Junction temperature
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
起草单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院
标准状态：现行
发布日期：2016-01-15
实施日期：2016-06-01
标准格式：PDF
内容简介
本部分规定了半导体红外发射二极管结温的测量原理图、测量步骤以及规定条件。适用于半导体红外发射二极管。
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