标准编号：GB/T 18735-2014
标准名称：微束分析 分析电镜（ＡＥＭ／ＥＤＳ）纳米薄标样通用规范
英文名称：Microbeam analysis—General guide for the specification of nanometer thin reference materials for analytical transmission electron microscope(AEM/EDS)
发布部门：国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会
起草单位：武汉理工大学
标准状态：现行
发布日期：2014-07-24
实施日期：2015-03-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准规定了分析电镜(AEM/EDS)即透射电子显微镜或装有扫描附件的透射电镜配备X射线能谱仪(EDS),测量比例因子KA-B所用纳米薄标样的技术要求、检测条件和检测方法。
本标准适用于采用分析电镜(AEM/EDS)进行无机薄样品的微区元素定量分析。
本标准不包括有机物和生物标样。
本标准适用于采用分析电镜(AEM/EDS)进行无机薄样品的微区元素定量分析。
本标准不包括有机物和生物标样。
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