标准编号：GB/T 4937.12-2018
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动
英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12:Vibration,variable frequency
发布部门：国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所
标准状态：现行
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
标准格式：PDF
内容简介
GB/T 4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。
本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。
本试验与GB/T 2423.10-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。
本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。
本试验与GB/T 2423.10-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。
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