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SJ 21075-2016 微波组件目检要求

标准编号:SJ 21075-2016
标准名称:微波组件目检要求
英文名称:Visual examination requirements of microwave assembly
发布部门:国家国防科技工业局
起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
标准状态:现行
发布日期:2016-01-19
实施日期:2016-03-01
标准格式:PDF
内容简介
本标准规定了微波组件产品封盖前对内部可视部分目检、以及封盖后对产品外部目检的检验要求。
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