标准编号：GB/T 27788-2020
标准名称：微束分析 扫描电镜 图像放大倍率校准导则
英文名称：Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Guidelines for calibrating image magnification
发布部门：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
起草单位：中国地质科学院矿产资源研究所、中国科学院上海硅酸盐研究所、中国人民解放军海军军医大学
标准状态：现行
发布日期：2020-06-02
实施日期：2021-04-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准规定了使用适当的参考物质对扫描电镜（SEM）图像的放大倍率进行校准的方法。
本标准适用于对由校准参考物质上间距大小的可用范围决定的放大倍率进行校准。
本标准不适用于专用测长型扫描电镜。
本标准适用于对由校准参考物质上间距大小的可用范围决定的放大倍率进行校准。
本标准不适用于专用测长型扫描电镜。
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