标准编号：T/CIE 092-2020
标准名称：自旋转移矩磁随机存储器测试方法
发布部门：中国电子学会
起草单位：北京航空航天大学、北京智芯微电子科技有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、上海佑磁信息科技有限公司、致真存储（北京）科技有限公司
发布日期：2020-12-21
实施日期：2021-01-25
标准状态：现行
标准格式：PDF
文件大小：1.16 MB
内容简介
本标准给出了自旋转移矩磁随机存储器（Spin-Transfer Torque Magnetic Random Access Memory，STT-MRAM）的术语、测试原理、被测件、测试环境、测试设备、测试程序等。
本标准适用于自旋转移矩磁随机存储器以及内嵌上述存储器的集成电路。
本标准适用于自旋转移矩磁随机存储器以及内嵌上述存储器的集成电路。
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