标准编号：T/CIE 134-2022
标准名称：磁随机存储芯片数据保持时间测试方法
发布部门：中国电子学会
起草单位：北京航空航天大学、致真存储（北京）科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、上海佑磁信息科技有限公司、北京时代民芯科技有限公司、深圳亘存科技有限责任公司、合肥致真精密设备有限公司
发布日期：2022-08-10
实施日期：2022-08-10
标准状态：现行
标准格式：PDF
文件大小：663.97 KB
内容简介
本标准给出了磁随机存储（Magnetic Random Access Memory; MRAM）芯片数据保持时间测试方法的术语、测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。
本标准适用于磁随机存储芯片的数据保持时间测试和磁随机存储芯片的数据保持时间验证。
本标准适用于磁随机存储芯片的数据保持时间测试和磁随机存储芯片的数据保持时间验证。
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