标准编号:T/CIE 144-2022
标准名称:半导体器件可靠性强化试验方法
英文名称:Reliability enhancement test of semiconductor devices
发布部门:中国电子学会
起草单位:工业和信息化部电子第五研究所、航空工业第一飞机设计研究院
标准状态:现行
发布日期:2022-12-31
实施日期:2023-01-31
标准格式:PDF
内容简介
本文件规定了半导体器件可靠性强化试验方法,并规定了半导体器件强化试验的一般步骤、相关要求、方法及参数监测等。
本文件适用于半导体分立器件、集成电路、微波器件的可靠性强化试验指导。
本文件适用于半导体分立器件、集成电路、微波器件的可靠性强化试验指导。
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