标准编号：T/CNS 81-2022
标准名称：电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法
英文名称：Simulation test method of proton induced displacement damage effects in charge-coupled device
发布部门：中国核学会
起草单位：中国科学院新疆理化技术研究所、中国科学院微小卫星创新研究院、中国航天科技集团公司第五研究院物资部
标准状态：现行
发布日期：2022-12-16
实施日期：2023-04-01
标准格式：PDF
内容简介
本文件适用于宇航用CCD位移损伤效应辐照试验。
下载地址