- SJ/T 11510-2015 液晶显示器用 铝腐蚀液
2018年12月2日 ... 本标准规定了液晶显示器用铝腐蚀液的术语、性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装、标志、储存、运输等。本标准适用于液晶显示器用铝腐蚀
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2018年12月2日 ... 本标准规定了液晶显示器用ITO腐蚀液的术语、分类、性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装、标志、储存、运输等。本标准适用于液晶显示器用IT
- SJ/T 11508-2015 集成电路用 正胶显影液
2018年12月2日 ... 本标准规定了集成电路用正胶显影液的术语、性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装、标志、储存、运输等。本标准适用于集成电路用正胶显影
- SJ/T 11507-2015 集成电路用 氧化层缓冲腐蚀液
2018年12月2日 ... 本标准规定了集成电路用氧化层缓冲腐蚀液的术语、性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装、标志、储存、运输等。本标准适用于集成电路用氧
- SJ/T 11506-2015 集成电路用 铝腐蚀液
2018年12月2日 ... 本标准规定了集成电路用铝腐蚀液(以下简称铝腐蚀液)的术语、性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装、标志、储存、运输等。本标准适用于
- SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
2018年12月2日 ... 本标准规定了低位错密度砷化镓(GaAs)抛光片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法。
- SJ/T 11489-2015 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
2018年12月2日 ... 本标准规定了低位错密度磷化铟(InP)抛光片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法。
- SJ/T 11488-2015 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
2018年12月2日 ... 本标准规定了半绝缘砷化镓单晶电阻率、霍尔系数和霍尔迁移率的测量方法。
- SJ/T 11486-2015 小功率LED芯片技术规范
2018年12月2日 ... 本标准规定了小功率半导体发光二极管芯片(以下简称芯片)的技术要求、检验方法、检验规则和标志、包装、运输和储存。本标准适用于可见光芯片
- SJ/T 11485-2015 LED型号命名规则
2018年12月2日 ... 该标准是半导体发光二极管系列产品的基础标准之一,为新制定的标准,主要内容是规范LED 产品型号命名,分单色光LED 和白光LED两类分别进行型号命名
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