- SJ/T 11510-2015 液晶显示器用 铝腐蚀液
2018年12月2日 ... 本标准规定了液晶显示器用铝腐蚀液的术语、性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装、标志、储存、运输等。本标准适用于液晶显示器用铝腐蚀
- SJ/T 11509-2015 液晶显示器用 ITO腐蚀液
2018年12月2日 ... 本标准规定了液晶显示器用ITO腐蚀液的术语、分类、性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装、标志、储存、运输等。本标准适用于液晶显示器用IT
- SJ/T 11508-2015 集成电路用 正胶显影液
2018年12月2日 ... 本标准规定了集成电路用正胶显影液的术语、性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装、标志、储存、运输等。本标准适用于集成电路用正胶显影
- SJ/T 11507-2015 集成电路用 氧化层缓冲腐蚀液
2018年12月2日 ... 本标准规定了集成电路用氧化层缓冲腐蚀液的术语、性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装、标志、储存、运输等。本标准适用于集成电路用氧
- SJ/T 11506-2015 集成电路用 铝腐蚀液
2018年12月2日 ... 本标准规定了集成电路用铝腐蚀液(以下简称铝腐蚀液)的术语、性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装、标志、储存、运输等。本标准适用于
- SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
2018年12月2日 ... 本标准规定了低位错密度砷化镓(GaAs)抛光片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法。
- SJ/T 11489-2015 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
2018年12月2日 ... 本标准规定了低位错密度磷化铟(InP)抛光片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法。
- SJ/T 11488-2015 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
2018年12月2日 ... 本标准规定了半绝缘砷化镓单晶电阻率、霍尔系数和霍尔迁移率的测量方法。
- SJ/T 11486-2015 小功率LED芯片技术规范
2018年12月2日 ... 本标准规定了小功率半导体发光二极管芯片(以下简称芯片)的技术要求、检验方法、检验规则和标志、包装、运输和储存。本标准适用于可见光芯片
- SJ/T 11485-2015 LED型号命名规则
2018年12月2日 ... 该标准是半导体发光二极管系列产品的基础标准之一,为新制定的标准,主要内容是规范LED 产品型号命名,分单色光LED 和白光LED两类分别进行型号命名
标准目录
下载排行
- SJ/T 11364-2014 电子电气产品有害物质限制使用标识要求
- SJ/T 11141-2012 LED显示屏通用规范
- SJ 20659-1998 空降兵定向通信系统指挥电台通用规范
- SJ 20893-2003 不锈钢酸洗与钝化规范
- SJ/T 11408-2009 软件构件 图形用户界面图元构件描述规范
- SJ 20673-1998 军用电磁屏蔽橡胶衬垫材料通用规范
- SJ 20862-2003 中长波战术电台通用规范
- SJ 20820.8-2002 信息技术 小计算机系统接口(SCSI)-3基本命令层 第8部分 机箱服务命令集
- SJ 20624-1997 军用方舱升降机构通用规范
- SJ/T 10817-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1054型TTL4路2-2-2-2输入与或非门(可
推荐内容
- SJ/T 11671-2017 工业生产综合监控系统工程施工及质量验收规范
- SJ/T 10678-1995 电子工业用氧化铋粉
- SJ 20812A-2018 军用电子设备三防设计管理规定
- SJ/T 11734-2019 芯片级封装(CSP)LED空白详细规范
- SJ/T 10802-1996 半导体集成接口电路外围驱动器测试方法的基本原理
- SJ/T 10810-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1004型TTL六反相器(可供认证用)
- SJ 20578-1996 阻塞式通信干扰机通用规范
- SJ 21197-2016 厚膜链式烧结炉工艺验证方法
- SJ 20115.3-1992 机载雷达环境条件及试验方法 温度冲击试验
- SJ 20785-2000 超辐射发光二极管组件测试方法