- SJ/T 2406-2018 微波电路型号命名方法
2019年1月1日 ... 本标准规定了微波电路的型号命名方法。本标准适用于微波组件、微波混合集成电路、微波半导体集成电路/芯片以及微波无源电路等的型号命名,100GHz
- SJ/T 11708-2018 功率电机驱动器测试方法
2019年1月1日 ... 本标准规定了功率电机驱动器(以下称为器件)的术语和定义、一般要求、测试方法等。本标准适用于H桥直流电机驱动器、三相桥无刷直流电机驱动器的电参数测试。
- SJ/T 11707-2018 硅通孔几何测量术语
2019年1月1日 ... 本标准规定了硅通孔尺寸的几何测量术语和定义。本标准适用于硅通孔尺寸的几何测量,其中硅通孔可完全贯穿硅晶圆,也可部分贯穿硅晶圆;硅通孔
- SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
2019年1月1日 ... 本标准规定了SRAM型现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,以下简称FPGA)的电参数测试方法。
- SJ/T 11705-2018 微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
2019年1月1日 ... 本标准规定了复杂、宽频带微电子器件用封装的地和电源引出端的串联阻抗测试方法。本标准适用于评估和比较不同封装之间性能的差异,并可用于预
- SJ/T 11704-2018 微电子封装的数字信号传输特性测试方法
2019年1月1日 ... 本标准规定了高频数字微电子封装中传输线的特性阻抗、传输延迟时间、负载电容、负载电感、直流串联电阻的测试方法。 本标准适用于高频数字微电子封装。
- SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
2019年1月1日 ... 本标准规定了在数字微电子器件封装引出端之间,测试宽带数字信号和噪声交叉耦合水平的方法。本标准适用于数字微电子器件封装。当驱动和负载阻
- SJ/T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法
2019年1月1日 ... 本标准规定了半导体集成电路串行外设接口测试方法。本标准适用于半导体集成电路串行外设接口电特性及功能验证。
- SJ/T 11701-2018 通用NAND型快闪存储器接口
2019年1月1日 ... 本标准规定了通用NAND型快闪存储器的物理接口、阵列排布、数据接口和时序以及指令定义等。本标准适用于“异步”接口,对于“同步”接口可参照执行。
- SJ/T 11700-2018 IP核质量信息描述方法
2019年1月1日 ... 本标准基于电子设计知识产权(IP)质量度量信息模型,规定了用于表示IP质量信息的标准XML格式。标准包括XML架构和与度量IP质量以及系统中执行的软
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