标准编号：GB/T 5594.2-1985
标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法
英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Youngs elastic modulus and Poisson ratio
发布部门：国家标准局
起草单位：天津大学
标准状态：现行
发布日期：1985-11-27
实施日期：1986-12-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准适用于室温下电子器件结构陶瓷材料的杨氏弹切变模量和泊松比的测量。
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