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GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法

标准编号:GB/T 5594.3-1985
标准名称:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法
英文名称:Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test methodfor mean coefficient of linear expansion
发布部门:国家标准局
起草单位:电子部12所
标准状态:作废
发布日期:1985-11-27
实施日期:1986-12-01
标准格式:PDF
内容简介
本标准适用于测量室温至800℃各个阶段中电子器件结构陶瓷的平均线膨胀系数。
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