标准编号:GB/T 4326-2006
标准名称:非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
英文名称:Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位:北京有色金属研究总院
标准状态:现行
发布日期:2006-07-18
实施日期:2006-11-01
标准格式:PDF
内容简介
本标准规定的测量方法适用于非本征半导体单晶材料的霍尔系数、载流子霍尔迁移率、电阻率和载流子浓度。
本标准规定的测量方法仅在有限的范围内对锗、硅、砷化镓单晶材料进行了实验室测量,但该方法也可适用于其他半导体单晶材料。
本标准规定的测量方法仅在有限的范围内对锗、硅、砷化镓单晶材料进行了实验室测量,但该方法也可适用于其他半导体单晶材料。
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