标准搜索:

GB/T 14139-2009 硅外延片

标准编号:GB/T 14139-2009
标准名称:硅外延片
英文名称:Silicon epitaxial wafers
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位:宁波立立电子股份有限公司
标准状态:现行
发布日期:2009-10-30
实施日期:2010-06-01
标准格式:PDF
内容简介
本标准规定了硅外延片的产品分类、技术要求、试验方法和检验规则及标志、包装运输、贮存等。
  本标准适用于在N型硅抛光片衬底上生长的n型外延层(N/N+)和在p型硅抛光片衬底上生长的P型外延层(P/P+)的同质硅外延片。产品主要用于制作硅半导体器件。其他类型的硅外延片可参照使用。

  本标准代替GB/T 14139-1993《硅外延片》。
  本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会提出。
  本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会归口。
下载地址


下载地址②

上一篇:GB/T 14124-2009 机械振动与冲击 建筑物的振动 振动测量及其对建筑物影响的评价指南
下一篇:GB/T 14140-2009 硅片直径测量方法