标准编号：GB/T 25186-2010
标准名称：表面化学分析 二次离子质谱 - 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子
英文名称：Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位：信息产业部专用材料质量监督检验中心
标准状态：现行
发布日期：2010-09-26
实施日期：2011-08-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准指定了一种由离子注入参考物质确定二次离子质谱分析中相对灵敏度因子的方法。
本标准适用于基体化学成分单一的样品，其中注入物质的峰值原子浓度不超过百分之一。
本标准适用于基体化学成分单一的样品，其中注入物质的峰值原子浓度不超过百分之一。
下载地址