标准编号：GB/T 14849.5-2014
标准名称：工业硅化学分析方法 第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
英文名称：Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 5：Determination of impurity contents―X-ray fluorescence method
发布部门：国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会
起草单位：昆明冶金研究院、中国铝业股份有限公司山东分公司、云南永昌硅业股份有限公司、中国铝业股份有限公司郑州研究院、通标标准技术服务有限公司、包头铝业有限公司、蓝星硅材料有限公司、
标准状态：现行
发布日期：2014-12-05
实施日期：2015-05-01
标准格式：PDF
内容简介
本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。
本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，测定范围标准中表1。
本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，测定范围标准中表1。
下载地址