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GB/T 14849.10-2016 工业硅化学分析方法 第10部分:汞含量的测定 原子荧光光谱法

标准编号:GB/T 14849.10-2016
标准名称:工业硅化学分析方法 第10部分:汞含量的测定 原子荧光光谱法
英文名称:Methods for chemical analysis of silicon metal-Part 10:Determination of mercury content一 Atomic fluorescence spectrometry method
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位:昆明冶金研究院、北京有色金属研究总院、北京矿冶研究总院、云南永昌硅业股份有限公司、通标标准技术服务(天津)有限公司、云南祥云飞龙再生科技股份有限公司、云南出入境检验检疫局、广州有色金属研究院
标准状态:现行
发布日期:2016-08-29
实施日期:2017-07-01
标准格式:PDF
内容简介
本部分规定了工业硅中汞含量的测定方法。
本部分适用于工业硅中汞含量的测定,侧定范围:0.000010%~0.0010%。
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