标准编号:GB/T 35310-2017
标准名称:200mm硅外延片
英文名称:200 mm silicon epitaxial wafer
发布部门:国家质检总局 国家标准委
起草单位:南京国盛电子有限公司、有色金属技术经济研究院
标准状态:现行
发布日期:2017-12-29
实施日期:2018-07-01
标准格式:PDF
内容简介
本标准规定了直径200 mm硅外延片的术语和定义、产品分类、要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存、质量证明书。
本标准适用于在N型和P型硅抛光衬底片上外延生长的硅外延片。产品主要用于制作集成电路或半导体器件。
本标准适用于在N型和P型硅抛光衬底片上外延生长的硅外延片。产品主要用于制作集成电路或半导体器件。
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