标准编号：GB/T 36477-2018
标准名称：半导体集成电路 快闪存储器测试方法
英文名称：Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory
发布部门：国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
起草单位：中国电子技术标准化研究院、中芯国际集成电路制造(上海)有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、复旦大学、中兴通讯股份有限公司
标准状态：现行
发布日期：2018-06-07
实施日期：2019-01-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。
本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。
本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。
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