标准编号：SJ/T 11631-2016
标准名称：太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法
英文名称：Test methods for surface defects of silicon wafers for solar cell
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
起草单位：中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易（上海）有限公司
标准状态：现行
发布日期：2016-04-05
实施日期：2016-09-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)外观缺陷的测试方法。
本标准适用于太阳能电池用硅片的沽污、崩边和缺口等外观缺陷的测试。对于其他类型硅片或外观缺陷在使用本标准规定的测试方法时，需经有关各方协商。
本标准适用于太阳能电池用硅片的沽污、崩边和缺口等外观缺陷的测试。对于其他类型硅片或外观缺陷在使用本标准规定的测试方法时，需经有关各方协商。
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