标准编号：SJ/T 11632-2016
标准名称：太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法
英文名称：Test method for microcrack defects of silicon wafers for solar cell
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
起草单位：中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易（上海）有限公司、江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、浙江精功科技股份有限公司、峨嵋半导体材料研究所
标准状态：现行
发布日期：2016-04-05
实施日期：2016-09-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)微裂纹缺陷的测试方法。
本标准适用于太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试，也可适用于硅片裂纹、杂质和孔洞缺陷的测试。在采用本标准提供的测试方法测试其他类型的样品之前，需由供需双方协商。
本标准适用于太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试，也可适用于硅片裂纹、杂质和孔洞缺陷的测试。在采用本标准提供的测试方法测试其他类型的样品之前，需由供需双方协商。
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