标准编号：GB/T 5252-2020
标准名称：锗单晶位错密度的测试方法
英文名称：Test method for dislocation density of monocrystal germanium
发布部门：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
起草单位：有研光电新材料有限责任公司、北京国晶辉红外光学科技有限公司、国合通用测试评价认证股份公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、中国电子科技集团公司第四十六研究所、广东先导稀材股份有限公司、中锗科技有限公司、义乌力迈新材料有限公司
标准状态：现行
发布日期：2020-06-02
实施日期：2021-04-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准规定了锗单晶位错密度的测试方法。
本标准适用于{111}、{100}和{113}面锗单晶位错密度的测试，测试范围为0 cm-2～100 000 cm-2。
本标准适用于{111}、{100}和{113}面锗单晶位错密度的测试，测试范围为0 cm-2～100 000 cm-2。
下载地址