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SJ 21475-2018 磷化铟单晶片几何参数测试方法

标准编号:SJ 21475-2018
标准名称:磷化铟单晶片几何参数测试方法
英文名称:Test methods for geometric parameters of InP wafers
发布部门:国家国防科技工业局
起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
标准状态:现行
发布日期:2018-12-29
实施日期:2019-03-01
标准格式:PDF
内容简介
本标准规定了磷化铟单晶片直径、主、副参考面长度、厚度、总厚度变化、总指示读数、翘曲度弯曲度等几何参数的测试方法。
本标准适用于50 mm~150mm磷化钢单晶片几何参数测试。
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