- SJ/T 2658.2-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第2部分:正向电压
2018年12月17日 ... 规定了半导体红外发射二极管正向电压的测量原理图、测量步骤以及规定条件。
- SJ/T 2658.13-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第13部分:辐射功率温度系数
2018年12月17日 ... 规定了半导体红外发射二极管辐射功率温度系数的测量原理图、测量步骤以及规定条件。本部分适用于半导体红外发射二极管。
- SJ/T 2658.12-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽
2018年12月17日 ... 规定了半导体红外发射二极管峰值发射波长和光谱辐射带宽的测量原理图、测量步骤以及规定条件。本部分适用于半导体红外发射二极管。
- SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则
2018年12月17日 ... 规定了对半导体红外发射二极管进行光电参数测量的一般要求,包括测试仪表的误差范围、电源的性能要求以及测试环境条件。
- SJ/T 2658.11-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第11部分:响应时间
2018年12月17日 ... 规定了半导体红外发射二极管响应时间的测量原理图、测量步骤以及规定条件。本部分适用于半导体红外发射二极管。
- SJ/T 2658.10-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第10部分:调制带宽
2018年12月17日 ... 规定了半导体红外发射二极管调制带宽的测量原理图、测量步骤以及规定条件。本部分适用于半导体红外发射二极管。
- SJ/T 2089-2015 电子测量仪器型号命名方法
2018年12月17日 ... 本标准规定了电子测量仪器(以下简称仪器)的型号命名方法。适用于电子测量仪器及相关的软件产品、附件、模块化仪器及由仪器组成的测量系统等。
- SJ/T 11565.1-2015 信息技术服务 咨询设计 第1部分:通用要求
2018年12月17日 ... 本标准提出了信息技术咨询设计服务模型,规范了咨询设计服务要素。适用于:计划提供信息技术咨询设计服务的组织建立服务能力体系;信息技术咨
- SJ/T 11564.4-2015 信息技术服务 运行维护 第4部分:数据中心规范
2018年12月17日 ... 本标准规定了数据中心运行维护对象、服务要求、运行维护内容等, 旨在规范数据中心运行维护服务供方(以下简称供方)行为、改进服务能力及提高数
- SJ/T 11563-2015 网络化可信软件生产过程与环境
2018年12月17日 ... 本标准定义了通用的网络化软件生产过程和生产环境,定义了三种具有普遍适用性的网络化软件生产模式,并为每种生产模式定义了具体的生产步骤和
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