- SJ/T 11505-2015 蓝宝石单晶抛光片规范
2018年12月17日 ... 本标准规定了衬底和红外探测器窗口用蓝宝石单晶抛光片的技术要求、测试方法、检验规则、标志、包装运输和贮存等内容。
- SJ/T 11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法
2018年12月17日 ... 本标准规定了碳化硅单晶抛光片表面质量的目视检验方法,观察样品表面的六方孔洞、划痕、凹坑、颗粒、沾污、亮点缺陷、裂纹、崩边的数量并用钢
- SJ/T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法
2018年12月17日 ... 本标准规定了测试碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的方法,包括表面轮廓仪法和原子力显微镜法。本标准适用于碳化桂单晶拋光片表面粗糙度的测试。其
- SJ/T 11502-2015 碳化硅单晶抛光片规范
2018年12月17日 ... 本标准规定了碳化硅单晶抛光片的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则以及包装、标志、贮存和运输等内容。本规范适用于晶型为6H和4H,单面
- SJ/T 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法
2018年12月17日 ... 本标准规定了利用拉曼光谱测定碳化硅单晶结晶类型的方法。本标准适用于碳化硅单晶晶型的测定。
- SJ/T 11500-2015 碳化硅单晶晶向的测试方法
2018年12月17日 ... 本标准规定了利用X射线衍射定向法测定碳化硅单晶晶向的方法。本标准适用于晶型为6H和4H的碳化硅单晶的晶向测定。
- SJ/T 11499-2015 碳化硅单晶电学性能的测试方法
2018年12月17日 ... 本标准规定了利用范德堡法测试6H、4H等晶型碳化硅单晶的导电类型、电阻率、迁移率、载流子浓度的方法。
- SJ/T 11498-2015 重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法
2018年12月17日 ... 本标准规定了用二次离子质谱法(SIMS)对重掺硅衬底单晶体中氧浓度总量的测试方法。
- SJ/T 11497-2015 砷化镓晶片热稳定性的试验方法
2018年12月17日 ... 本标准规定了半绝缘砷化镓(GaAs)热稳定性的试验方法。
- SJ/T 11496-2015 红外吸收法测量砷化镓中硼含量
2018年12月17日 ... 本标准规定了在77K时,用红外吸收法来测定砷化镓(GaAs)中替位硼含量的方法。
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