2012年9月29日 ... GB/T 26070-2010 化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法

2012年9月29日 ... GB/T 26069-2010 硅退火片规范

2012年9月29日 ... GB/T 26068-2010 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法

2012年9月29日 ... GB/T 26067-2010 硅片切口尺寸测试方法

2012年9月29日 ... GB/T 16656.105-2010 工业自动化系统与集成 产品数据表达与交换 第105部分：集成应用资源：运动学

2012年9月29日 ... GB/T 16649.9-2010 识别卡 集成电路卡 第9部分：用于卡管理的命令

2012年9月29日 ... GB/T 16649.4-2010 识别卡 集成电路卡 第4部分：用于交换的结构、安全和命令

2012年9月29日 ... GB/T 14999.7-2010 高温合金铸件晶粒度、一次枝晶间距和显微疏松测定方法

2012年9月29日 ... GB/T 14999.6-2010 锻制高温合金双重晶粒组织和一次碳化物分布测定方法

2012年9月29日 ... GB 14536.12-2010 家用和类似用途电自动控制器 能量调节器的特殊要求