标准编号：GB/T 18210-2000
标准名称：晶体硅光伏(PV)方阵 I-V特性的现场测量
英文名称：Crystalline silicon photovoltaic(PV) array--On-site measurement of I-V characteristics
发布部门：国家质量技术监督局
起草单位：信息产业部电子第十八研究所
标准状态：现行
发布日期：2000-10-17
实施日期：2001-05-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准描述晶体硅光伏方阵特性的现场测量及将测得的数据外推到标准测试条件(STC)或其他选定的温度攻辐照度条件下的程序。
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