标准编号：GB/T 5594.8-2015
标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法
英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 8: Test method for microstructure
发布部门：国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会
起草单位：中国电子科技集团公司第十二研究所、中国电子技术标准化研究院、江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司
标准状态：现行
发布日期：2015-05-15
实施日期：2016-01-01
标准格式：PDF
内容简介
本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。
本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。
本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。
本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
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